NZ-AF210数字式覆层测厚仪又名涂层测厚仪,是磁性便携式覆层测厚仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域,是材料保护专业必备的仪器。
NZ-AF210数字式覆层测厚仪主要特点:
采用了磁性测厚方法,既可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度 ;
具有两种测量方式:连续测量方式( CONTINUE )和单次测量方式( SINGLE ) ;
具有两种工作方式:直接方式( DIRECT )和成组方式( GROUP );
设有五个统计量:平均值( MEAN )、最大值( MAX )、最小值( MIN )、测试次数( NO. )、标准偏差( S.DEV );
可采用两种方法仪器起进行校准 , 并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正 ;
具有存贮功能:可存贮 500 个测量值;
具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量;
可设置限界:对限界外的测量值能自动报警;并可用直方图对一批测量值进行分析;
具有打印功能:可打印测量值、统计值、限界、直方图;
具有与 PC 机通讯的功能:可将测量值、统计值传输至 PC 机,以便对数据进行进一步处理;
具有电源欠压指示功能;
操作工程有蜂鸣声提示;
具有错误提示功能,通过屏显或蜂鸣声进行错误提示;
设有两种关机方式:手动关机方式和自动关机方式;
NZ/AF210数字式覆层测厚仪参数介绍:
测头类型 | F | |
工作原理 | 磁感应 | |
测量范围 (µm) | 0~1250 | |
低限分辨率 (µm) | 0.1 | |
示值 | 一点校准 (µm) | ± (3%H+1) |
二点校准 (µm) | ± [(1~3%H)+1] | |
测试条 | 最小曲率半径 (µm) | 凸 1.5 |
最小面值的直径 (mm) | Φ 7 | |
基体临界厚度 (mm) | 0.5 |
NZ/AF210数字式覆层测厚仪测头选用参考表:
覆盖层-基体 | 有机材料等非磁性覆盖层 (如:漆料、涂料塑料、搪瓷和阳极化处理等) |
非磁性的有色金属覆盖层 (如:铬、锌、铝、铜、锡、银等) |
如铁、钢等磁性金属 | F 性探头 测量范围:0µm~1250µm |
F 型探头 测量范围:0µm~1250µm |